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Microme|x DXR

主要特征

自主冷却和温度稳定控制的数字DXR平板探测器具有

高动态响应进行实时成像

细节分辨率可达0.2微米的180kV/20W高功率纳米X

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·具有CAD文件导入的x|act软件可编程和自动检测

采用金刚石靶材,在同等质量影像条件下数据截取的

速度可快2

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检测控制技术

目前具有非破坏性电路板检测的planarCT

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180kV高分辨率纳米焦点X射线检测系统

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